的器件增加，使设计更为复杂，可靠性变差，延迟增加，测量误差变大。利用EDA技术对系统功能进行描述，运用上实现，从而让总系统非常精简，让其具有灵活的现场更改性，在不改变硬件电路的基础上，进一步改善提高系统的性能，使数字频率计具有高速，精确度高，可靠性强，抗干扰等优点，为数字系统进一步的集成创造了条件。

  频率测量方法中，常用的有直接测频法、倍频法和等精度测频法。中直接测频法是依据频率的含义把被测频率信号加到闸门的输入端，只有在闸门开通时间T（以ls计）内，被测（计数）的脉冲送到十进制计数器进行计数。直接测频法比其他两个方案更简单方便可行，直接测频法虽然在低频段测量时误差较大，但在低频段我们大家可以采用直接测周法加测量，这样就可以提高测量精度了。直接周期测量法是用被测周期信号直接控制计数门控电路，使主门开放时间等于Tx,时标为Ts的脉冲在主门开放时间进入计数器。设在Tx期间计数值为N,可以根据Tx=N×Ts来算得被测信号周期。因此本文采用低频测周，高频测频的方法来提高精度，减小误差。

  该系统设计的控制器是由状态机实现，通过在不同测量档位，选择合理的时基信号频率降低误差，确定各状态转移条件和状态名，采用低频档位测周，高频档位测频的方法。20MHz晶振送入分频器，分出各档时基信号和其它模块所需的触发信号，分频器将各档时基信号传给状态机，同时待测信号进入状态机，状念机进行状态转换，将量程溢出信号和状态显示信号表征在发光二极管上。如图表1所示。

  首先对系统复位，如果此时状态机的初始状态为Fl00k,若超量程信号送入状态机，则状态转换到FlM,如果仍有超量程信号则状态转换到F10M,如果仍有超量程信号则状态转换到F100M,如果还有超量程信号则状态转换到Overflow H产生高溢出信号；若欠量程信号送人状态机，则状态转换到P1ms,如果有超量程信号则状态转换到P10ms,如果仍有超量程信号则状态转换到P100ms,如果仍有超量程信号则状态转换到P 1 s,如果还有超量程则状态转换到OverflowL产生低溢出信号。如图1所示。

  在“待计数信号”的两个时钟周期内完成计数与控制信号（Over与Low）的传输，在量程合适的情况下，还将计数值输出。这两个时钟周期内，第1个时钟周期完成计数，第2个时钟周期完成控制信号的传输与计数值输出。这样做的好处是稳定，将计数与控制信号传输分开进行。避免了一些可能遇到的“时钟跳变”.但这种做法的缺点也很明显，那就是在测周期模式下，假如待测信号是1Hz的，那么系统可能需要2s（两个时钟周期）才能显示正确的数值。

  由于1kHz~10kHz的信号无论用测频法还是测周期法都是不可行的，能够使用预分频的方法，将1kHz~10kHz的信号十分频，然后用测周期法测出周期，再计算出频率。

  据状态转换图，这里将状态机的程序分成两个进程，进程1完成状态转移过程，进程2控制各状态下的输出值如下图2所示，timecounter=clocktested为50KHz.

  为了方便观察，将数值改小，计数值大于100且小于或等于1000时输出！将clock1设为50K,clock2计数时钟设为5M,得出仿线符合计数要求。

  uartusII平台做了仿真和硬件测试，基本达到了设计的要求。从而证实了本方案的具备比较好可靠性，灵活性以及实用性